Устаткування

Центру колективного користування науковими приладами ННЦ ХФТІ (ЦККНП)
“Аналітичне матеріалознавство наноструктурних систем ядерної енергетики”

ЦККНП

Цілі і завдання

Устаткування

Публікації

JSM-7001F – автоемісійний скануючий електронний мікроскоп із системою енергодисперсійного мікроаналізу (EDS), зі спектрометром з хвильовою дисперсією (WDS) та детектором зворотно розсіяних електронів (EBSD)

			Роздільна здатність		При 30 кВ	1,2 нм
					При 1 кВ	3 нм
			Прискорювальна напруга		0,5 – 30 кВ
			Діапазон збільшення		×25 - ×1 000 000
			Розмір зразків		діаметр до 10 см висота до 40 мм
На мікроскопі JSM-7001F встановлені EDS та WDS спектрометри: (1) обидва детектора спрямовані в одну точку; (2) забезпечуються необхідні розміри робочої відстані та кутів збору EDS: за кілька секунд можна отримати повний спектр зразка і визначити його якісний і кількісний хімічний склад; WDS: забезпечує більш точний результат, але це відносно повільний послідовний метод аналізу
				Якісний та кількісний аналіз хімічного складу
				Автоматизація керування електронним зондом та аналіз із прив’язкою до зображення
				Картування – аналіз просторового розподілу елементів
Система аналізу фазового складу, структури та текстури кристалічних матеріалів методом дифракції зворотно розсіяних електронів (EBSD)
		Модульний принцип побудови - можна вибирати програмні модулі, необхідні рішення спеціальних завдань:
		Ø отримання та індексування картин EBSD, ідентифікація фаз за структурою/складом; Ø орієнтаційне картування, подання та обробка інформації у вигляді карт, аналіз текстур методом полюсних фігур; Ø аналіз текстур з використанням функцій розподілу орієнтації у просторі Ейлера; Ø моделювання кристалічних структур (входить до складу всіх системних пакетів).

ЦККНП

Цілі і завдання

Устаткування

Публікації